Inspección del espesor y la planicidad del sustrato de vidrio para semiconductores

Los sustratos de vidrio se utilizan ampliamente en aplicaciones avanzadas de empaquetado y en semiconductores relacionados con pantallas, y su espesor y morfología afectan directamente el rendimiento del proceso posterior. LightE emplea una solución de medición óptica sin contacto para lograr una detección de alta precisión del espesor y la planicidad de los sustratos de vidrio, adecuada para materiales altamente transparentes y altamente reflectantes.