Las células son propensas a microgrietas o daños durante el transporte y el procesamiento, y resulta difícil identificar defectos tempranos mediante inspección visual. LightE utiliza tecnología de medición sin contacto de alta precisión para escanear la superficie de la célula a gran velocidad e identificar fragmentos y áreas defectuosas a través de variaciones anormales en la altura.

El espesor de la película antirreflectante afecta directamente la eficiencia de absorción de la luz, y las desviaciones en el espesor pueden provocar fluctuaciones en la eficiencia de conversión. LightE introduce una tecnología de medición de espesor de película de alta precisión para determinar el grosor de las películas antirreflectantes a nivel micro‑nano, adecuada para la verificación de procesos y el control aleatorio.

Las baterías de contacto trasero requieren una alta uniformidad de la capa de metalización, lo que influye directamente en las propiedades de soldadura y conductividad. LightE emplea tecnología de medición sin contacto de alta precisión para medir las zonas metalizadas, logrando una detección estable sobre superficies altamente reflectantes.

El espesor y la deformación del vidrio del módulo afectan la calidad de la laminación y la fiabilidad del componente. LightE utiliza tecnología de medición sin contacto de alta precisión para escanear la superficie del vidrio y obtener datos sobre el espesor y la planicidad.

Un espesor irregular de la película encapsulante puede causar burbujas o problemas de concentración de tensiones tras la laminación. LightE aplica tecnología de medición de espesor de película de alta precisión para realizar mediciones no contactivas del grosor de películas adhesivas transparentes, adecuada para el control de materiales entrantes y la inspección de procesos.

El espesor de la capa funcional depositada en las baterías de película delgada tiene un impacto significativo en el rendimiento eléctrico, por lo que se requiere un control preciso del espesor. LightE utiliza tecnología de medición de espesor de película de alta precisión para detectar grosores a escala micro‑nanométrica en las capas depositadas, idónea para I+D y el monitoreo de procesos.

El espesor de la oblea de silicio influye directamente en la eficiencia de conversión de la batería y en su resistencia mecánica. La medición tradicional por contacto es propensa a riesgos de contaminación por residuos y resulta difícil de adaptar a líneas de producción de alta velocidad. LightE emplea tecnología de medición sin contacto de alta precisión para realizar mediciones en línea del espesor de las obleas de silicio, logrando un monitoreo estable y altamente repetible del grosor […]

Una deformación excesiva de la oblea y una variación total del espesor (TTV) pueden reducir los rendimientos posteriores en los procesos de texturizado, difusión e impresión. LightE utiliza tecnología de escaneo 3D para analizar el contorno superficial de la oblea de silicio y obtener datos sobre la distribución general de alturas, permitiendo una evaluación cuantitativa de la deformación y del TTV.