Medición del espesor de estructuras multicapa y de capas intermedias

Estructura del vidrio multicapa y medición del espesor de las capas intermedias

Las estructuras multicapa, como el vidrio sándwich y el vidrio hueco, necesitan controlar el espesor de cada capa y el espesor total, respectivamente, y resulta difícil distinguir la interfaz interna con los métodos de medición tradicionales. LightE utiliza tecnología de medición sin contacto de alta precisión para identificar la interfaz de reflexión interna en estructuras multicapa, logrando así mediciones de alta precisión […]
Medición del espesor de recubrimientos y películas funcionales en vidrio

Medición del espesor de recubrimientos y películas funcionales en vidrio

Los vidrios recubiertos, como los de baja emisividad (Low-E) y los antirreflectantes (AR), presentan requisitos extremadamente elevados en cuanto al espesor y la uniformidad del recubrimiento, lo que influye directamente en el aislamiento térmico, la transmisión lumínica y el rendimiento óptico. LightE emplea tecnología de medición de espesor de película de alta precisión para detectar espesores a nivel micro y nanométrico en recubrimientos transparentes o translúcidos.
Medición sin contacto de vidrios altamente reflectantes y transparentes

Medición sin contacto de vidrios altamente reflectantes y transparentes

Los vidrios altamente reflectantes o altamente transparentes pueden provocar fácilmente saturación de señal o mediciones inestables, lo que hace que los sensores de desplazamiento convencionales resulten insuficientemente adaptables. LightE utiliza tecnología confocal cromática y se basa en el principio de codificación por longitud de onda para lograr mediciones estables en superficies de vidrio altamente reflectantes y transparentes.
Verificación del espesor de sustratos de vidrio para pantallas y aplicaciones electrónicas

Inspección del espesor de sustratos de vidrio para pantallas y electrónica

Los sustratos de vidrio para pantallas tienen exigencias extremadamente altas en cuanto a la tolerancia de espesor, la calidad superficial y la uniformidad, y requieren una solución de prueba no destructiva y de alta precisión. LightE emplea tecnología confocal cromática para medir el espesor de los sustratos de vidrio electrónicos y de pantalla con alta repetibilidad, siendo adecuada tanto para inspecciones en línea como fuera de línea.