Medición del espesor y la planicidad del sustrato cerámico

Los sustratos cerámicos se utilizan comúnmente en el encapsulado de semiconductores. Presentan alta dureza, características de reflexión complejas y una adaptabilidad limitada para los métodos de medición tradicionales. LightE emplea una solución de medición óptica sin contacto para lograr mediciones estables del espesor y la planicidad de los sustratos cerámicos, siendo adecuada para superficies de materiales complejos.