Imagem de capa do caso de aplicação da Liiyi Technology para a medição da espessura e da planicidade de substratos cerâmicos

Medição da espessura e da planicidade do substrato cerâmico

Os substratos cerâmicos são amplamente utilizados na embalagem de semicondutores. Apresentam alta dureza, características de reflexão complexas e limitada adaptabilidade aos métodos tradicionais de medição. A LightE utiliza uma solução de medição óptica sem contato para realizar medições estáveis da espessura e da planicidade dos substratos cerâmicos, sendo adequada para superfícies de materiais complexos.