Mesure de l’épaisseur et de la planéité des substrats céramiques

Les substrats céramiques sont couramment utilisés dans l’emballage des semi-conducteurs. Ils présentent une dureté élevée, des caractéristiques de réflexion complexes et une adaptabilité limitée aux méthodes de mesure traditionnelles. LightE utilise une solution de mesure optique sans contact pour assurer une mesure stable de l’épaisseur et de la planéité des substrats céramiques, adaptée aux surfaces matérielles complexes.