El espesor de la película antirreflectante afecta directamente la eficiencia de absorción de la luz, y las variaciones en el espesor de la película provocan fluctuaciones en la eficiencia de conversión.
LightE presenta una tecnología de medición de espesor de película de alta precisión para determinar el espesor de las películas antirreflectantes a escala micro‑nano, adecuada para la verificación de procesos y los controles aleatorios.
