Les cellules sont sujettes à la formation de microfissures ou à des dommages lors du transport et du traitement, et il est difficile d’identifier précocement les défauts par inspection visuelle. LightE utilise une technologie de mesure sans contact haute précision pour scanner la surface des cellules à grande vitesse et détecter les fragments ainsi que les zones défectueuses grâce aux variations anormales de hauteur.

L’épaisseur du film antireflet influence directement l’efficacité d’absorption lumineuse, et toute déviation de cette épaisseur entraîne des fluctuations du rendement de conversion. LightE introduit une technologie de mesure d’épaisseur de film haute précision permettant d’analyser l’épaisseur des films antireflets au niveau micro‑nano, adaptée à la vérification des procédés et aux contrôles aléatoires.

Les batteries à contact arrière exigent une grande uniformité de la couche de métallisation, ce qui affecte directement les propriétés de soudure et de conductivité. LightE recourt à une technologie de mesure sans contact haute précision pour analyser les zones métallisées, assurant ainsi une détection fiable des surfaces très réfléchissantes.

L’épaisseur et la gauchissement du verre du module influencent la qualité du laminage ainsi que la fiabilité du composant. LightE emploie une technologie de mesure sans contact haute précision pour scanner la surface du verre et obtenir des données sur l’épaisseur et la planéité.

Une épaisseur inégale du film d’encapsulation peut engendrer des bulles ou des concentrations de contraintes après le laminage. LightE utilise une technologie de mesure d’épaisseur de film haute précision pour réaliser des mesures sans contact des films adhésifs transparents, adaptée aux contrôles des matériaux entrants et aux inspections de processus.

L’épaisseur de la couche de dépôt fonctionnelle dans les batteries à couches minces a un impact majeur sur les performances électriques, nécessitant un contrôle précis de l’épaisseur. LightE recourt à une technologie de mesure d’épaisseur de film haute précision pour détecter les épaisseurs au niveau micro‑et nanométrique des films déposés, idéal pour la R&D et la surveillance des procédés.

L’épaisseur de la plaquette de silicium influe directement sur le rendement de conversion de la batterie ainsi que sur sa résistance mécanique. Les méthodes traditionnelles de mesure par contact présentent un risque accru de contamination par des débris et peinent à s’adapter aux lignes de production à grande vitesse. LightE utilise une technologie de mesure sans contact haute précision pour effectuer des mesures en ligne de l’épaisseur des plaquettes de silicium, assurant un suivi stable et hautement reproductible de l’épaisseur […]

Un gauchissement excessif des plaquettes et une variation totale de l’épaisseur (TTV) peuvent entraîner une baisse des rendements ultérieurs lors des étapes de texturation, de diffusion et d’impression. LightE recourt à la technologie de numérisation 3D pour scanner le contour de la surface de la plaquette de silicium et obtenir des données globales sur la distribution des hauteurs, permettant ainsi une évaluation quantitative du gauchissement et de la TTV.