Imagem de capa do caso de aplicação da Liiyi Technology para a detecção da altura de pequenas imperfeições na superfície de placas de circuito impresso

Detecção de altura de minúsculos defeitos na superfície de placas de circuito impresso

Pequenos defeitos, como arranhões, amassados e cobre residual, são difíceis de quantificar de forma estável por meio do AOI comum.