Höhenmessung mikroskopischer Oberflächenfehler auf Leiterplatten

Höhenmessung winziger Defekte auf der Leiterplattenoberfläche

Kleine Defekte wie Kratzer, Dellen und Restkupfer lassen sich mit herkömmlichen AOI nur schwer zuverlässig quantifizieren.

LightE setzt einen chromatisch-konfokalen Wegmesssensor ein, um eine hochgeschwindige Höhenabtastung durchzuführen und so kleine Höhenanomalien zu erkennen.