Contrôle en ligne de l’épaisseur du verre plat

Contrôle en ligne de l’épaisseur du verre plat

Le verre plat nécessite un contrôle en temps réel de la régularité de l’épaisseur lors de la production continue, et la détection par contact ne peut pas s’adapter aux conditions de travail à grande vitesse et sur de grands formats. LightE utilise une solution de mesure d’épaisseur sans contact pour réaliser des mesures de haute précision sur les faces supérieure et inférieure du verre, afin d’assurer une surveillance en ligne de l’épaisseur en temps réel.
Mesure de l’épaisseur des couches intermédiaires et de la structure multicouche du verre

Structure multicouche du verre et mesure de l’épaisseur des intercalaires

Les structures multicouches, telles que le verre sandwich et le verre creux, exigent le contrôle respectif de l’épaisseur de chaque couche et de l’épaisseur totale, tandis qu’il est difficile de distinguer les interfaces internes avec les méthodes de mesure traditionnelles. LightE utilise une technologie de mesure sans contact de haute précision pour identifier l’interface de réflexion interne d’une structure multicouche, permettant ainsi des mesures d’une grande exactitude […]
Mesure de l’épaisseur des couches de revêtement et des films fonctionnels sur le verre

Mesure de l’épaisseur des revêtements et des films fonctionnels sur le verre

Les verres revêtus, tels que les verres à faible émissivité (Low-E) et les verres antireflets (AR), imposent des exigences extrêmement élevées en matière d’épaisseur et de régularité du film, ce qui influence directement l’isolation thermique, la transmission lumineuse et les performances optiques. LightE emploie une technologie de mesure d’épaisseur de film de haute précision pour détecter des épaisseurs de l’ordre du micro- et du nanomètre sur des revêtements transparents ou translucides.
Mesure sans contact des verres à forte réflexion et des verres transparents

Mesure sans contact pour les verres très réfléchissants et très transparents

Les verres très réfléchissants ou très transparents peuvent facilement entraîner une saturation du signal ou des mesures instables, rendant les capteurs de déplacement conventionnels insuffisamment adaptés. LightE utilise la technologie confocale chromatique et repose sur le principe de l’encodage par longueur d’onde pour assurer des mesures stables sur des surfaces de verre fortement réfléchissantes et transparentes.
Contrôle de l’épaisseur des substrats de verre destinés aux écrans et aux applications électroniques

Contrôle de l’épaisseur des substrats en verre destinés aux écrans et à l’électronique

Les substrats de verre destinés aux écrans requièrent des tolérances d’épaisseur, une qualité de surface et une uniformité extrêmement strictes, nécessitant une solution de test non destructive et de haute précision. LightE recourt à la technologie confocale chromatique pour mesurer l’épaisseur des substrats de verre électroniques et d’affichage avec une grande répétabilité, adaptée à l’inspection en ligne comme hors ligne.