Medición del espesor de recubrimientos y películas funcionales en vidrio

Medición del espesor de recubrimientos y películas funcionales en vidrio

Los vidrios recubiertos, como los de baja emisividad (Low-E) y los antirreflectantes (AR), presentan requisitos extremadamente elevados en cuanto al espesor y la uniformidad del recubrimiento, lo que influye directamente en el aislamiento térmico, la transmisión lumínica y el rendimiento óptico. LightE emplea tecnología de medición de espesor de película de alta precisión para detectar espesores a nivel micro y nanométrico en recubrimientos transparentes o translúcidos.
Medición sin contacto de vidrios altamente reflectantes y transparentes

Medición sin contacto de vidrios altamente reflectantes y transparentes

Los vidrios altamente reflectantes o altamente transparentes pueden provocar fácilmente saturación de señal o mediciones inestables, lo que hace que los sensores de desplazamiento convencionales resulten insuficientemente adaptables. LightE utiliza tecnología confocal cromática y se basa en el principio de codificación por longitud de onda para lograr mediciones estables en superficies de vidrio altamente reflectantes y transparentes.
Verificación del espesor de sustratos de vidrio para pantallas y aplicaciones electrónicas

Inspección del espesor de sustratos de vidrio para pantallas y electrónica

Los sustratos de vidrio para pantallas tienen exigencias extremadamente altas en cuanto a la tolerancia de espesor, la calidad superficial y la uniformidad, y requieren una solución de prueba no destructiva y de alta precisión. LightE emplea tecnología confocal cromática para medir el espesor de los sustratos de vidrio electrónicos y de pantalla con alta repetibilidad, siendo adecuada tanto para inspecciones en línea como fuera de línea.
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