Mesure de l’épaisseur des couches de revêtement et des films fonctionnels sur le verre

Mesure de l’épaisseur des revêtements et des films fonctionnels sur le verre

Les verres revêtus, tels que les verres à faible émissivité (Low-E) et les verres antireflets (AR), imposent des exigences extrêmement élevées en matière d’épaisseur et de régularité du film, ce qui influence directement l’isolation thermique, la transmission lumineuse et les performances optiques. LightE emploie une technologie de mesure d’épaisseur de film de haute précision pour détecter des épaisseurs de l’ordre du micro- et du nanomètre sur des revêtements transparents ou translucides.
Mesure sans contact des verres à forte réflexion et des verres transparents

Mesure sans contact pour les verres très réfléchissants et très transparents

Les verres très réfléchissants ou très transparents peuvent facilement entraîner une saturation du signal ou des mesures instables, rendant les capteurs de déplacement conventionnels insuffisamment adaptés. LightE utilise la technologie confocale chromatique et repose sur le principe de l’encodage par longueur d’onde pour assurer des mesures stables sur des surfaces de verre fortement réfléchissantes et transparentes.
Contrôle de l’épaisseur des substrats de verre destinés aux écrans et aux applications électroniques

Contrôle de l’épaisseur des substrats en verre destinés aux écrans et à l’électronique

Les substrats de verre destinés aux écrans requièrent des tolérances d’épaisseur, une qualité de surface et une uniformité extrêmement strictes, nécessitant une solution de test non destructive et de haute précision. LightE recourt à la technologie confocale chromatique pour mesurer l’épaisseur des substrats de verre électroniques et d’affichage avec une grande répétabilité, adaptée à l’inspection en ligne comme hors ligne.
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