Image de couverture d’un cas d’application de LiiYi Technology : détection de la hauteur globale et des différences de niveau après le conditionnement des puces.

Détection de la hauteur globale et des marches après le conditionnement des puces

Après la réalisation du conditionnement des puces, des différences de hauteur apparaissent entre les différentes zones structurelles. Si la tolérance est dépassée, l’assemblage du module ainsi que sa fiabilité seront affectés. LightE propose une solution de mesure de hauteur sans contact permettant de détecter avec précision les zones critiques des dispositifs conditionnés, afin de garantir que la hauteur et les marches de hauteur respectent les exigences de conception.