L’épaisseur du feuillard de cuivre et de la couche d’électrodéposition influence directement les performances conductrices et la fiabilité, ce qui nécessite des tests de haute précision et non destructifs.
LightE utilise la technologie de mesure d’épaisseur de film par optique pour effectuer des mesures précises de l’épaisseur du feuillard de cuivre et des couches d’électrodéposition.
