Dickeprüfung der Kupferfolie und der Galvanisierungsschichten auf Leiterplatten

Erkennung der Dicke der Kupferfolie und der Galvanisierungsschicht von Leiterplatten

Die Dicke der Kupferfolie und der Galvanisierungsschicht beeinflusst direkt die Leitfähigkeit und Zuverlässigkeit, weshalb eine hochpräzise und zerstörungsfreie Prüfung erforderlich ist.

LightE nutzt die Optik-Film-Dickenmesstechnologie, um präzise Dickenmessungen von Kupferfolien und Galvanisierungsschichten durchzuführen.