Detección de la altura y la topografía de superficies ópticas de alta reflectancia, imagen de portada del caso de aplicación de Liyi Technology

Detección de la altura y la topografía de superficies ópticas de alta reflectancia

Las superficies ópticas altamente reflectantes requieren una alta estabilidad del sistema de medición, y los métodos tradicionales son susceptibles a interferencias. LightE logra una detección estable de la altura y la forma mediante una solución de medición sin contacto adecuada para superficies altamente reflectantes.