L’épaisseur du film antireflet influence directement l’efficacité d’absorption de la lumière, et toute déviation de l’épaisseur du film entraîne des fluctuations de l’efficacité de conversion.
LightE introduit une technologie de mesure de l’épaisseur de film haute précision, permettant de mesurer l’épaisseur des films antireflets au niveau micro‑nano, adaptée à la vérification des procédés et aux contrôles aléatoires.
