El espesor de cada capa funcional en una película compuesta multicapa afecta directamente al rendimiento del material, pero la detección tradicional por corte es destructiva y no puede utilizarse para el control del proceso.
LightE presenta una tecnología de medición de espesor de película de alta precisión para analizar la interfaz entre capas de películas multicapa transparentes o translúcidas, logrando así la medición no destructiva del espesor de cada capa individual.
